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3120A 相噪短穩分析盒

3120A 相噪短穩分析盒
穩定度測量

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產品描述

Microsemi(并購了Symmetricom公司)公司開發了直接數字相位噪聲測量技術,這項技術已經擴展到一個測試探頭。精確的相噪和阿倫方差測量成本顯著降低。
 
Microsemi(并購了Symmetricom公司)的3120A是一款高性能的測試探頭,可以測量射頻源端口和雙端口設備的振幅、相位和頻率的穩定(頻率:0.5MHz—30MHz)。
 
3120A的測試內容如下:
 

主要特點

● 實時“帶狀圖”相和具有亞皮秒(PS)精度和頻率的差異
● 絕對頻率計數為:13+位每秒,最大17位(升級選項))
● 阿倫方差(ADEV)通常小于1E-13(t=1s)
● 改進的阿倫方差(MDEV)方面,哈德曼方差(HDEV),時間偏差(TDEV)。(升級選項)
● RMS集成的相噪和相噪偏移量為:
● 1Hz—100kHz,水平低于-170dBc/Hz(升級選項)
● AM噪聲偏移量為:1Hz—100kHz,<-170dBc/Hz(升級選項)
● RMS集成的抖動時間小于100fs,殘余抖動為:1Hz—100kHz(升級選項)

主要優點

● 在幾秒內能顯示出測試結果
● 支持不同頻率的輸入和參考的測試
● 高性價比的解決方案
● 無測量的校準要求,節省時間
● 易于具有直觀圖形用戶界面的軟件使用
● 小尺寸
T800 高性能時鐘服務器可以廣泛應用于政府、國防、金融、證券、保險、 移動通信、
云計算、電子商務、能源電力、石油石化、工業自動化、 智能交通、安防、智慧城市、
物聯網等領域。

主要特點

● 獨立輸入和參考頻率為:0.5MHz-30MHz
● PM噪聲的互相關測試偏移量為:1Hz-100kHz
● 阿倫方差(ADEV)通常為:<1E-13(t=1s)
● SFDR指定為:-100dBc,,通常低于-120dBc
● 頻率和相位差圖以一百萬+點記錄描繪振蕩器漂移
● 包括數字I/O拓展端口和獨立ADCs輸入
● 易于使用的測量軟件,完整多線程高性能測量
● ASCII文件格式擁有靈活的數據導入和導出選項

可選功能(軟件升級)

● AM噪聲
● MDEV、HDEV、TDEV和抖動測量的信號統計特性
● 頻率計數器許可協議
● 模板測試許可
● 所有受支持的測量,都具有用戶可定義的限制線
3120A需要一臺PC主機和用戶提供的外部參考振蕩器。幾乎所有方面的測量性能的準確度、重復性、本底噪聲和雜散響應都依賴于能夠提供最好的參考信號,如:采用一個獨立的低噪聲OCXO以進行相位噪聲和調幅噪聲測量等。
 

技術指標

功能及指標

3120A

帶寬

0.5~30MHz(正弦波)

輸入信號電平

-5~20dBm

相噪測量準確度

NA

短穩指標

<1E-13@1秒(0.5Hz帶寬)

系統底噪

(10MHz輸入)

1Hz,@5MHz<-140dBc

1Hz,@25MHz<-130dBc

10kHz,@5MHz<-170dBc

10kHz,@25MHz<-165dBc

 


3120A 相噪短穩分析盒【PDF】數據表
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置身于專家之中,不再撲朔迷離。

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